RITG142质控软件，TG142分析软件,RITG142直线加速器质控软件

TG-142 和 MPPG 8.b 中推荐的每个基于图像的测试的单一供应商解决方案。使用 EPID 和 RITG142 软件，自信而轻松地对直线加速器进行全面的质量保证。

RITG142质控软件，TG142分析软件是机器 QA、MLC QA、成像 QA 以及数据跟踪和趋势分析的一体化解决方案，您需要符合 TG-142 和医学物理学实用指南 （MPPG） 8.b 的全面 LINAC QA。此外，成像 QA 模型通过易于使用的跟踪和趋势分析功能自动评分。

机器质量保证

字段对齐

光束测量

辐射/光场重合

EPID图像可以在没有校准文件的情况下进行分析，并具有自定义的视场大小。中心位置可以通过采取

BB、针刺或使用 L-Rad Phantom。

 

全自动星形分析

非对称场/匹配线

深度剂量、交叉和正交剖面

电子能 （TG-25）

图像直方图

等剂量轮廓

3D 剂量曲线

快速平整度和对称性

水箱梁测量分析

导入断层放疗®校准文件

断层放疗®是 Accuray， Inc. 的注册商标

MLC质量保证

Varian LINAC

EPID纠察栅栏测试

此例程可自动执行经典的纠察栅栏测试。

自动化瓦里安 RapidArc®测试

可以在距离 EPID、胶片或 CR 图像的任何距离处拍摄图像。这包括：测试 0.1、0.2、1.1、1.2、2 和 3。 RIT 的 RapidArc QA 例程支持 Millennium 120、HD120 MLC 和 Halcyon®MLC 模型。

瓦里安叶速试验

在不使用日志文件的情况下，该测试可测量瓦里安 MLC 叶片速度在成像仪上移动时的一致性和准确性。

瓦里安·哈尔西恩®MLC分析

执行纠察围栏或全面的 RapidArc®Halcyon的分析®MLC

Elekta LINAC

 

汉考克对医科达机器的测试

汉考克测试（2 图像测试、4 图像测试和带备用钳口测试）使用 Elekta iView™ 成像仪自动测量叶片位置与等中心位置以及颚叶片后退测量值。

EPID纠察栅栏测试

此例程可自动执行经典的纠察栅栏测试。

医科达叶速测试

此测试对齐两张图像，以分析 Elekta iView™ 和 Agility™ 的叶速一致性。
 

其他 MLC 测试

Bayouth MLC分析

分析需要在银行之间留叶间隙的 MLC。

其他 MLC 测试

其中包括：TG-50 纠察栅栏测试、MSK 叶片测试、瓦里安 DMLC 测试模式和 MLC 传输分析。

 

成像 QA

 

EPID QC模块

RIT长子

（EPID QA Phantom - 由 Standard Imaging 制造和销售。 这些测试包括：5 个区域的稳定性、分辨率 （MTF）、几何失真、均匀性、对比度和噪点。

PTW电子元

拉斯维加斯EPID

标准成像 QC-3

卡坦®、kV 和锥形梁模块

瓦里安 504 CATPHAN

瓦里安 604 CATPHAN

医科达 503 CATPHAN

西门子图像质量 Phantom

DR/CR kV模块

IBA Primus（IBA普里姆斯酒店）®L

PTW 诺米®4

（20x20厘米和30x30厘米）

利兹 TOR-18 FG

标准成像 QC-kV1

kV/MV模块

标准成像 ISOCube

五角星指南

基本模块

DICOM图像查看器

DICOM 标签查看器

图像导入：DICOM 目录浏览器、打开目录浏览器、DICOM 文件过滤器

手动测量：距离、角度、轮廓、直方图、圆形和方形 ROI 以及轮廓的 ASCII 输出

输出格式：打印、PDF 导出、带有自定义模板的 Excel 导出

监控图像质量

图像传输

自定义公差管理

使用公差管理器为所有自动模型分析中使用的每个测量设置公差值和通过/失败标准。该工具提供了在各种 LINAC 和成像系统上自定义公差所需的灵活性：

在易于使用的面板中方便地设置和切换公差，该面板位于主界面中，并显示在每个模型分析例程中。

为分析及其相应报告设置自己的通过/失败标准，允许在所有成像 QA 分析中进行完全定制。

偏好配置文件和公差是根据每台机器设置的。它们可以针对使用中的每台机器进行精确定制。

将所有通过/失败容差数据传输到RIT趋势数据库，以进行统计跟踪和趋势™分析

 

其他测量

用于 QA 的电影剂量测定

• 放射致变色和放射致变色胶片，配备Vidar和平板扫描仪
• 平板非均匀性校正
• 放射致变色胶片均匀性校正
• 用于Vidar和平板扫描仪的2D扫描仪空间校准
• 通用映像文件导入
• Vidar 扫描仪接口（Vidar 扫描仪控制中心）

校准

• MLC标定技术
  专利：EP 1318857、CA 2418232、JP 3817176、US 6675116、US 6934653 和 US 7013228。
• 用于Vidar和平板扫描仪的2D扫描仪空间校准
• 垂直剂量校准
• 校准文件合并

EPID 质量保证

• 导入用于 QA 的 EPID 映像
• 缩放瓦里安 EPID 的 DICOM 图像

一般特征

• 图像合成器
• DICOM 匿名器
• 针刺、擦除和 ROI 工具
• 每个分析程序的 PDF 报告
• 基于云的软件许可